半導體推力測試儀是微電子和電子制造領域的重要儀器設備，它在測試精度、重復性、可靠性、操控性和外觀設計等方面，均達到高的水平。主要是用于微電子封裝和PCBA電子組裝制造及其失效分析領域的專用動態測試儀器。smt元件推力測試儀芯片推拉力機

　　該設備廣泛應用于現代中、大功率變換器中的主流半導體開關器件，其動態特性決定裝置的開關損耗、功率密度、器件應力以及電磁兼容性，直接影響變換器的性能。因此準確測量功率開關元件的動態性能具有重要的實際意義。用于測試小型衛星的推力系統。它可以測量有效推力、推力穩定性和推力變化率等關鍵參數。smt元件推力測試儀芯片推拉力機

設備特點

1.所有傳感器采用高速動態傳感及高速數據采集系統，確保測試數據的準確無誤。

2.采用公司研發的高分辨率(24 BitPlus超高分辨率)的數據采集系統。

3.采用公司的安全限位及安全限速技術，讓操作得心應手。

4.采用公司的智能燈光控制與調節系統，減少光源對視力的損傷。

5.標配高清觀察顯微鏡，減少人員視覺疲勞。

6.雙搖桿四向操作及人性化的軟件配置使操作簡單、方便。

7.結合人體學的設計，讓使用更加舒適。

8.設備的保護措施，避免因人員誤操作對設備的損壞。

9.強大的研發實力，根據客戶的需求提供訂制化產品。

10.貼心的售后服務，讓使用人員無后顧之憂。

測試模塊范圍：

測試參數

設備型號:  LB-8100A

外形尺寸:  650mm*600mm*760mm(含左右操作手柄）

設備重量:  約 80KG

電源供應： 110V/220V@3.0A 50/60Hz

氣壓供應： 4.5-6Bar

控制電腦： 聯想/惠普原裝 PC

電腦系統： Windows7/Windows10 正版系統

顯微鏡： 標配高清連續變倍顯微鏡（可選配三目顯微鏡+高清 CCD 相機）

傳感器更換方式： 手動更換（根據測試需要選擇相應的測試模組，軟件自動識別模組量程）

平臺治具： 360 度旋轉，平臺可共用各種測試治具

XY 軸絲桿有效行程：100mm*100mm 配真空平臺可拓展至 200mm*200mm，測試力 200KG

XY 軸移動速度： 采用霍爾搖桿對 XY 軸自由控制，移動速度為 6mm/S

XY 軸絲桿精度： 重復精度±5um 分辯率≤0.125 ；2mm 以內精度±2um

Z 軸絲桿有效行程： 100mm 分辯率≤0.125um，測試力 20KG

Z 軸移動速度： 采用霍爾搖桿對 Z 軸自由控制，移動速度為 8mm/S

Z 軸絲桿精度： ±2um 剪切精度：2mm 以內精度±1um

傳感器精度： 傳感器精度±0.003%；綜合測試精度±0.25%

設備治具：  根據樣品或圖紙按產品設計治具（出廠標配一套）

設備校正：  設備出廠標配相應校正治具及砝碼一套

質量保證：  設備整機質保 2 年，軟件升（人為損壞不含）