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CEM3000系列高易用性掃描電鏡高易用性快速成像、一鍵成片，無需過多人工調節。具有出色的電子光學系統，優于4nm的空間分辨率，保證了高放大倍數下的清晰成像，能...

CEM3000系列鎢燈絲掃描電子顯微鏡外型緊湊，空間適用性強，整機采用大量的抗干擾設計，避免使用環境造成的影響，拓寬了應用范圍。同時，該系列臺式電鏡具有非常豐富...

SuperViewW白光干涉三維光學形貌儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點，測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。白光干涉儀...

CEM3000系列國內高分辨力掃描電鏡用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析。儀器空間分辨率出色和易用性強，用戶能夠非常快捷地進行各項操作。甚至在自動程序的幫助下...

VT6000系列白光干涉共聚焦顯微鏡一般用于略粗糙度的工件表面的微觀形貌檢測，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等參數。儀器的隔震設計能夠消減底面振動噪聲，儀器在部分...

中圖儀器NS系列膜厚臺階儀線性可變差動電容傳感器（LVDC），具有亞埃級分辨率，13μm量程下可達0.01埃。高信噪比和低線性誤差，使得產品能掃描到幾納米至幾百...

中圖儀器SuperViewW桌面式白光干涉光學輪廓儀以白光干涉技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像。它...

CEM3000桌面式能譜掃描電子顯微鏡讓復雜的掃描電鏡使用過程變得簡單快捷。樣品一鍵裝入，自動導航和一鍵出圖能力（自動聚焦+自動消像散+自動亮度對比度）幫助用戶...

CEM3000系列臺式鎢燈絲掃描電鏡用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析。臺式電鏡緊湊的外型，CEM3000系列臺式掃描電鏡能夠不受場地尺寸制約，真正做到了空間...

NS系列軟膜材料臺階高度儀采用LVDC電容傳感器，具有的亞埃級分辨率和超微測力等特點。它是利用光學干涉原理，通過測量膜層表面的臺階高度來計算出膜層的厚度，可以測...

中圖儀器優于4nm(SE)國產掃描電鏡憑借其簡便的操作系統，讓復雜的掃描電鏡使用過程變得簡單快捷。樣品一鍵裝入，自動導航和一鍵出圖能力（自動聚焦+自動消像散+自...

CEM3000系列超清掃描顯微鏡在工業領域展現出廣泛的應用價值，標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統，能滿足用戶對多類型樣品的...

不同于立式電鏡，CEM3000系列國產掃描電子顯微鏡無需占據大量空間來容納整個電鏡系統，這使其甚至能夠出現在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊實時呈現所得結果。

中圖儀器鎢燈絲掃描電鏡CEM3000系列無需占據大量空間來容納整個電鏡系統，這使其甚至能夠出現在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊實時呈現所得結果。此外，該系列臺...

NS系列國產高精度臺階儀采用了線性可變差動電容傳感器LVDC，具備超微力調節的能力和亞埃級的分辨率，同時，其集成了超低噪聲信號采集、超精細運動控制、標定算法等核...

中圖儀器VT6000系列3D高精度共聚焦顯微鏡集成X\\Y\\Z三個方向調整功能的操縱手柄，可快速完成載物臺平移、Z向聚焦等測量前工作。儀器以轉盤共聚焦光學系統...

CEM3000系列高分辨率SEM掃描電鏡用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析。它空間分辨率出色和易用性強，用戶能夠非常快捷地進行各項操作。甚至在自動程序的幫助下...

SuperViewW系列白光干涉三維光學輪廓儀以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關鍵參數和尺寸。它是以白光干涉技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模...

SuperVirewW白光干涉表面3D輪廓儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點，測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。白光干涉...

SuperViewW1白光干涉三維表面測量系統廣泛應用于半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件...