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徠卡電鏡樣品制備技術進展
閱讀:747 發布時間:2013-4-222012年12月17日,北京天文館,2012年度北京市電子顯微學年會隆重召開,年會由北京市電鏡學會和北京理化分析測試技術學會主辦。
旨在推動北京及周邊省市廣大電子顯微學的學術及技術水平,促進電子顯微學工作者在材料科學、生命科學等領域的應用、發展和交流。來自科研院所、高等院校、儀器耗材廠商的300余位專家學者、技術工程師,參加了此次年會,共同探討了電鏡產品的進展和相關應用技術。
香港徠卡儀器有限公司 童艷麗女士
香港徠卡儀器有限公司上海代表處童艷麗女士介紹了《徠卡電鏡樣品制備技術進展》。介紹了徠卡全新設計的EM ACE系列鍍膜儀。
鍍膜可降低荷電效應,降低電子束對樣品的損傷,提高SE和BSE的信號量,降低電子束的入射深度,獲得更淺表層的信息,通過獲得重金屬覆膜和碳膜復型可間接地觀察敏感的生物樣品的結構。
徠卡EM ACE200鍍膜儀主要技術特點:普通真空度(10-3mbar);兩種金屬離子濺射,方向性——用于對平面樣品鍍細膩的金屬薄膜,彌散性——用于對拓撲結構明顯的樣品進行均勻鍍膜;Pulse脈沖式碳絲蒸發方式;輝光放電。徠卡EM ACE600鍍膜儀,高真空度(無油真空,10-6mbar),金屬離子濺射,碳絲蒸發,碳棒蒸發,金屬蒸發,電子束蒸發。EM ACE系列可拆卸,清潔簡易。